Tag: 電子產(chǎn)品
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GB 2423.39-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee彈跳試驗方法
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GB 2424.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
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GB 2424.12-1982電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則
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GB 2424.13-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導則
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GB 2424.19-1984電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗導則
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GB 2424.20-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導則
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GB 2424.21-1985電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導則
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GB 2424.23-1990電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗
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GB 2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B高溫試驗方法
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GB 2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A低溫試驗方法
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GBT 2423.52-2003電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分： 試驗方法試驗77：結構強度與撞擊
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